DLI-500光合有效辐射日光积分全光谱测量仪美国Apogee

产品名称：日光积分测量仪全光谱
品牌：Apogee
产地：美国
型号：DLI-500

DLI-500日光积分测量仪全光谱美国Apogee的介绍：

• Apogee 的新型 DLI-500 日光积分测量仪设计用于测量 400-700 nm 的光合有效辐射 (PAR)，并且在所有光源下都是准确的。如果您正在寻找在阳光和某些宽带光源下准确的低成本选项，请参阅DLI-400 型号。除了测量 PAR，DLI-500 仪还计算日光积分 (DLI) 和光周期。
• DLI-500 仪有两种不同的屏幕模式：存储数据和实时取景数据。
• 在存储数据屏幕中，它会显示 DLI 测量值、光周期以及收集数据的日期（**多 99 天前）。实时取景数据屏幕显示过去 2.5 秒的 PPFD 运行平均值。

DLI-500日光积分测量仪全光谱美国Apogee的技术参数：
测量重复性：小于 0.5 %
测量范围：0 至 4000 µmol mˉ² sˉ¹
长期漂移：每年少于 2%
视野：180°
光谱测量范围：(± 5 nm) 389 至 692
余弦响应：± 5 % 在 75˚ 天顶角
响应时间：2.5 秒
测量频率：3分钟
数据记录容量：99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分钟 PPFD/ePPFD 平均值）
非线性：小于 1 %（** 4000 µmol mˉ² sˉ¹）
存储数据分辨率 (PPFD)：0.1 µmol mˉ² sˉ¹（≥1000时屏幕不显示小数）
存储数据分辨率 (DLI)：0.1 mol mˉ² 天ˉ¹
存储数据分辨率（光周期）：0.1小时
连接性：Type--C 数据传输的 CSV 文件
ADC 分辨率：24 位
操作环境：-40 至 70 ℃；0 至 100 % 相对湿度
电池寿命：6个月
重量：67g
 

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提示：“美国Apogee品牌DLI-500产品”内容及图片来自厂商官网、翻译或互联网引用等，内容仅供参考，以最终签订合同为准，如有差错或异议可联系我们更改。